找回密码
 立即注册
搜索
热搜: 日历 老黄历
查看: 32|回复: 1

半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于

[复制链接]

64

主题

0

回帖

268

积分

新手上路

Rank: 1

积分
268
发表于 2025-10-17 09:22:59 | 显示全部楼层 |阅读模式
半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于【】
A、可靠性测定试验

B、可靠性鉴定试验

C、可靠性验收实验

D、环境应力筛选试验
回复

使用道具 举报

0

主题

1386

回帖

2952

积分

新手上路

Rank: 1

积分
2952
发表于 2025-10-17 09:33:18 | 显示全部楼层
正确答案:D
答案解析:暂无解析
回复

使用道具 举报

您需要登录后才可以回帖 登录 | 立即注册

本版积分规则

手机版|xuepai.net

GMT+8, 2025-11-22 23:59 , Processed in 1.109375 second(s), 23 queries .

快速回复 返回顶部 返回列表